日前，在日本京都举行的第十八届国际离子注入技术大会（18th International Conference on Ion Implantation Technology, IIT 2010）上，王曦院士指导、上海微系统所与德国Rossendorf研究中心联合培养的博士生欧欣，被大会国际委员会授予 “青年科学家奖”（Young Investigator Award）。

IIT会议是国际微电子技术领域中历史最长的重要国际会议之一，每两年举行一次。本次参会人数接近400位，分别来自 imec、Leti、IBM、Texas Instrument、Samsung、UMC、等国际著名的微电子研究所和公司。每届会议中，来自11个国家的30位国际委员会委员投票产生“Young Investigator Award”以表彰年轻学者在该领域中出色的研究工作。

欧欣博士最近连续在Nano Letters（影响因子10.37）， Advanced Materials（影响因子8.191）等国际著名刊物上发表研究成果。